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Procedura negoziata ai sensi dell’art. 63 comma 2, lett. b) punto 3) del D.Lgs. 50/2016 per la fornitura di un Dual Beam - Microscopio elettronico a scansione con sorgente ad emissione di campo

Procedura negoziata ai sensi dell’art. 63 comma 2, lett. b) punto 3) del D.Lgs. 50/2016 per la fornitura di un Dual Beam - Microscopio elettronico a scansione con sorgente ad emissione di campo, accoppiato a colonna ionica e integrato di sistema di litografia elettronica e ionica (FIB-FEG SEM – IBL/EBL) e sistema di microanalisi

Avviso verifica unicità Prot. 88832 del 29.07.21
Determina a contrarre Prot. 115165 del 28.09.21
2021-OJS235-616536-it